Search
English
HORIBAグループ企業情報
Japan
製品情報
ラマン分光
Raman Solution by Activity
Raman Solution by Hardware Feature
Raman Software Solutions
製品ラインアップ
アクセサリー一覧
ソフトウェア
ラマン分光法の応用例
ナノイメージング
リアルタイムモニタリング
定量分析
複合分析
粒子解析
大気非暴露測定
カタログ・アプリケーション
Raman Academy
蛍光分光・蛍光寿命
蛍光&吸光分析「A-TEEM」
高感度蛍光分光
蛍光寿命分析
Fluorescence Microscopy
製品ラインアップ
DeltaFlex TCSPC
DeltaPro TCSPC
Duetta
FLIMera
Fluorolog-QM
FluoroMax
InverTau
Nanolog
Veloci
アクセサリ一覧
蛍光X線分析（XRF）
蛍光X線分析（XRF）でできること
製品ラインアップ
X線分析顕微鏡
蛍光X線分析装置
インライン蛍光X線分析装置
異物分析
カタログ・アプリケーション
EMIA-Pro | C/S Analyzer
XGT-9000SL | X-ray Analytical Microscope Super Large Chamber Model
EMIA-Pro | C/S Analyzer
EMIA-Pro | C/S Analyzer
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析（GD-OES）
製品特長
製品ラインアップ
活用事例
表面分析としての活用事例
顕微鏡用前処理としての活用事例
バルク分析としての活用事例
rf-GD-OES法と他の分析手法の比較
カタログ・アプリケーション
GD-Profiler 2
ICP発光分析
Ultima Expert
Ultima Expert LT
炭素・硫黄分析/酸素・窒素・水素分析
製品ラインアップ
炭素・硫黄分析装置・ 酸素・窒素・水素分析装置の全自動化
カタログ・アプリケーション
分析レシピ集
EMIA-Expert | C/S Analyzer
EMIA-Pro | C/S Analyzer
EMIA-Step | C/S Analyzer
EMGA-Expert (EMGA-21E) | H Analyzer
粒子計測
Particle Size
Particle Shape
Zeta Potential
Surface Area
Particle Concentration
製品ラインアップ
Partica LA-960V2
Partica mini LA-350
ViewSizer 3000
nanoPartica SZ-100V2 Series
Eyecon2™
SA-9600 Series
粒子・粉体分析においてたとえばこんな条件でも測定ができます！
粒子の凝集評価
粒子径の乾式分析
粒子画像解析
粒度分布計用オートサンプラ
分散媒量の削減
ゲル分析
粒子個数分析
カタログ・アプリケーション
フォトルミネッセンス
カソードルミネッセンス
オプティカルコンポーネント
HORIBA分光器の特徴
豊富な分光器・グレーティングのカスタマイズと量産の実績
近赤外・SWIR用の分光器
紫外・可視の分光器
検出エレクトロニクスのカスタマイズで多機能分光システムの実現が可能
OCTに適した分光器① ～OCT(光干渉断層撮影）とは～
OCTに適した分光器② ～SD-OCTとSS-OCTについて～
OCTに適した分光器③ ～分光器の選定、性能のトレードオフ～
分光器・分光器システム
OCT用分光器
半導体プラズマモニタ用分光器
真空紫外分光器
ガス計測モジュール
赤外線(IR)フィルター
回折格子（グレーティング）
OEMグレーティング（回折格子）
カスタム（特注）回折格子（グレーティング）
Browse Products
Miniature Spectrometers
Mini Raman Spectrometers
Multispectra Spectrometers
OES Spectrometers
PoliSpectra RPR Raman Plate Reader
UV-Vis-NIR Spectrometers
表面プラズモン共鳴イメージング（SPRi）
製品ラインアップ
カタログ・アプリケーション
OpenPleX
SPRi-Arrayer
分光エリプソメトリー
UVISEL Plus
Auto SE
Smart SE
製品ラインアップ
カタログ・アプリケーション
旋光計
分野別
自動車分析ソリューション
軽量化
車両用電子部品
接着／接合
腐食・トライボロジー
車内環境
工程管理
完成車向け評価
半導体材料分析ソリューション
膜厚・膜質
応力分析
深さ方向元素組成分析
欠陥評価
CMPスラリー分析
キャリア寿命分析
異物検出・分析
先端材料
バイオ・ライフサイエンス
細胞・微生物の測定
低分子医薬品の分析
DDS製剤評価
バイオ医薬品の分析
化粧品の分析
GMP規制・CSV対応サポート
食品・飲料
成分分析
食品の物性評価
食品中異物分析
食品製造プロセス評価
食品包装（プラスチック）の分析
免疫測定試薬
エネルギー材料分析・評価のトータルソリューション
リチウムイオン電池
燃料電池
太陽電池
触媒評価
法科学・科学捜査・鑑識
技術情報
ラマン分光
粒子計測
粒子測定の基礎知識
なぜ粒子径が重要なのか？
粒子径とは？
粒度分布とは？
粒子径基準
粒度分布計の種類と特長
光散乱と粒子径
レーザー回折/散乱法
動的光散乱法（DLS）
遠心沈降法
粒子軌跡解析法（PTA）
粒子特性分析
ゲル分析
ゼータ電位
分子量
粒度分布測定におけるポイント
動画で学ぶ粒度分布の基礎
技術情報
粒子径ごとに分けて測る、高分解能の粒度分布
高濃度での粒度分布測定
カーボンナノチューブ分散水溶液の評価手法
粒度分布測定はなぜ難しいか
光で「粉」の大きさをはかる技術
蛍光X線分析 (XRF)
炭素・硫黄分析/酸素・窒素・水素分析
マーカス型高周波グロー放電発光表面分析（GD-OES）
分光エリプソメトリー
蛍光分光・蛍光寿命
カソードルミネッセンス
分光分析
表面プラズモン共鳴イメージング（SPRi）
ニュース
新着情報
セミナー情報
分析原理セミナーアーカイブ
サポート
海外のグループ会社・拠点
受託分析・試験サービス
販売終了製品と推奨代替製品のお知らせ
各種資料
お問い合わせ
国・地域
変更
お問い合わせ
拠点情報
HORIBA
»
科学
»
ニュース
»
新着情報
Oops, an error occurred! Code: 202603141627592d260ecc